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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
TIES: a Testability Increase Expert System for VLSI Design 1-gen-1995 Buonanno, G; Fummi, Franco; Sciuto, D.
Sequential Logic Minimization Based on Functional Testability 1-gen-1995 Fummi, Franco; D., Sciuto; M., Serra
Simplifying Sequential gate-Level Test Generation Through Exploitation of High-Level Information 1-gen-1996 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
FsmTest: Functional Test Generator for Sequential Circuits 1-gen-1996 G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto; F., Lombardi
Functional Fault Models and Gate Level Coverage for Sequential Architectures 1-gen-1996 G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto
A Testing Methodology for VHDL Based High-Level Designs 1-gen-1996 G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto
BDD-Based Testability Extimation of VHDL Designs 1-gen-1996 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
SCAN/BIST Techniques for Decreasing Test Storage and their Implications to Test Pattern Generation 1-gen-1996 R., Bevacqua; L., Guerrazzi; Fummi, Franco
Sequential Test Compaction for Test Embedding 1-gen-1996 R., Bevacqua; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Guerrazzi
A Parametric Design of a Built-In Self-Test FIFO Embedded Memory 1-gen-1996 S., Barbagallo; M. L., Bodoni; D., Medina; G., De Blasio; M., Ferloni; Fummi, Franco; D., Sciuto
Implicit Test Sequences Compaction for Decreasing Test Application Cost 1-gen-1996 R., Bevacqua; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Guerrazzi
Symbolic Optimization of FSM Networks based on Sequential ATPG Techniques 1-gen-1996 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
Test Generation for Networks of Interacting FSMs Using Symbolic Techniques 1-gen-1996 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
An Extended Testing Methodology for VHDL Based High-Level Design 1-gen-1997 G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto; P., Cavalloro
A Complete Testing Strategy Based on Interacting and Hierarchical FSMs 1-gen-1997 Fummi, Franco; D., Sciuto
Application of a Testing Framework to VHDL Descriptions at Different Abstraction Levels 1-gen-1997 M., Bacis; G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Gerli; D., Sciuto
A Complete Test Strategy Based on Interacting and Hierarchical FSMs 1-gen-1997 Fummi, Franco; D., Sciuto
The Use of Hierarchical Information to Test Large Controllers 1-gen-1997 Fummi, Franco; D., Sciuto
Implicit Test Pattern Generation Constrained to Cellular Automata Embedding 1-gen-1997 Fummi, Franco; D., Sciuto
How an Evolving Fault Model Improves the Behavioral Test Generation 1-gen-1997 G., Buonanno; F., Ferrandi; L., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto
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