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A BDD Based Algorithm for Detecting Difficult Faults
1995-01-01 C., Bolchini; Fummi, Franco; R., Gemelli; F., Salice
TIES: a Testability Increase Expert System for VLSI Design
1995-01-01 Buonanno, G; Fummi, Franco; Sciuto, D.
A Testing Methodology for VHDL Based High-Level Designs
1996-01-01 G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto
Sequential Test Compaction for Test Embedding
1996-01-01 R., Bevacqua; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Guerrazzi
Simplifying Sequential gate-Level Test Generation Through Exploitation of High-Level Information
1996-01-01 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
FsmTest: Functional Test Generator for Sequential Circuits
1996-01-01 G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto; F., Lombardi
Functional Fault Models and Gate Level Coverage for Sequential Architectures
1996-01-01 G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto
Test Generation for Networks of Interacting FSMs Using Symbolic Techniques
1996-01-01 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
BDD-Based Testability Extimation of VHDL Designs
1996-01-01 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
A Parametric Design of a Built-In Self-Test FIFO Embedded Memory
1996-01-01 S., Barbagallo; M. L., Bodoni; D., Medina; G., De Blasio; M., Ferloni; Fummi, Franco; D., Sciuto
Symbolic Optimization of FSM Networks based on Sequential ATPG Techniques
1996-01-01 F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto
SCAN/BIST Techniques for Decreasing Test Storage and their Implications to Test Pattern Generation
1996-01-01 R., Bevacqua; L., Guerrazzi; Fummi, Franco
Implicit Test Sequences Compaction for Decreasing Test Application Cost
1996-01-01 R., Bevacqua; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Guerrazzi
An Extended Testing Methodology for VHDL Based High-Level Design
1997-01-01 G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto; P., Cavalloro
The Use of Hierarchical Information to Test Large Controllers
1997-01-01 Fummi, Franco; D., Sciuto
Configuration-Specific Test Pattern Extraction for Field Programmable Gate Arrays
1997-01-01 F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Pozzi; M. G., Sami
Testing Core-Based Digital Systems: A Symbolic Methodology
1997-01-01 Ferrandi, F.; Fummi, Franco; Macii, E.; Poncino, M.; Sciuto, D.
Functional Design for Testability of Control-Dominated Architectures
1997-01-01 Fummi, Franco; U., Rovati; D., Sciuto
Application of a Testing Framework to VHDL Descriptions at Different Abstraction Levels
1997-01-01 M., Bacis; G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Gerli; D., Sciuto
A Complete Testing Strategy Based on Interacting and Hierarchical FSMs
1997-01-01 Fummi, Franco; D., Sciuto
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| A BDD Based Algorithm for Detecting Difficult Faults | 1-gen-1995 | C., Bolchini; Fummi, Franco; R., Gemelli; F., Salice | |
| TIES: a Testability Increase Expert System for VLSI Design | 1-gen-1995 | Buonanno, G; Fummi, Franco; Sciuto, D. | |
| A Testing Methodology for VHDL Based High-Level Designs | 1-gen-1996 | G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto | |
| Sequential Test Compaction for Test Embedding | 1-gen-1996 | R., Bevacqua; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Guerrazzi | |
| Simplifying Sequential gate-Level Test Generation Through Exploitation of High-Level Information | 1-gen-1996 | F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto | |
| FsmTest: Functional Test Generator for Sequential Circuits | 1-gen-1996 | G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto; F., Lombardi | |
| Functional Fault Models and Gate Level Coverage for Sequential Architectures | 1-gen-1996 | G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto | |
| Test Generation for Networks of Interacting FSMs Using Symbolic Techniques | 1-gen-1996 | F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto | |
| BDD-Based Testability Extimation of VHDL Designs | 1-gen-1996 | F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto | |
| A Parametric Design of a Built-In Self-Test FIFO Embedded Memory | 1-gen-1996 | S., Barbagallo; M. L., Bodoni; D., Medina; G., De Blasio; M., Ferloni; Fummi, Franco; D., Sciuto | |
| Symbolic Optimization of FSM Networks based on Sequential ATPG Techniques | 1-gen-1996 | F., Ferrandi; Fummi, Franco; E., Macii; M., Poncino; D., Sciuto | |
| SCAN/BIST Techniques for Decreasing Test Storage and their Implications to Test Pattern Generation | 1-gen-1996 | R., Bevacqua; L., Guerrazzi; Fummi, Franco | |
| Implicit Test Sequences Compaction for Decreasing Test Application Cost | 1-gen-1996 | R., Bevacqua; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Guerrazzi | |
| An Extended Testing Methodology for VHDL Based High-Level Design | 1-gen-1997 | G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto; P., Cavalloro | |
| The Use of Hierarchical Information to Test Large Controllers | 1-gen-1997 | Fummi, Franco; D., Sciuto | |
| Configuration-Specific Test Pattern Extraction for Field Programmable Gate Arrays | 1-gen-1997 | F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Pozzi; M. G., Sami | |
| Testing Core-Based Digital Systems: A Symbolic Methodology | 1-gen-1997 | Ferrandi, F.; Fummi, Franco; Macii, E.; Poncino, M.; Sciuto, D. | |
| Functional Design for Testability of Control-Dominated Architectures | 1-gen-1997 | Fummi, Franco; U., Rovati; D., Sciuto | |
| Application of a Testing Framework to VHDL Descriptions at Different Abstraction Levels | 1-gen-1997 | M., Bacis; G., Buonanno; F., Ferrandi; Fummi, Franco; L., Gerli; D., Sciuto | |
| A Complete Testing Strategy Based on Interacting and Hierarchical FSMs | 1-gen-1997 | Fummi, Franco; D., Sciuto |
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