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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Hierarchical Modeling Approach to Improve Scheduling of Manufacturing Processes 1-gen-2022 Gaiardelli, Sebastiano; Spellini, Stefano; Lora, Michele; Fummi, Franco
A homogeneous framework for AMS languages instrumentation, abstraction and simulation 1-gen-2017 Fraccaroli, Enrico; Piccolboni, Luca; Fummi, Franco
A HW/SW co-simulation framework for the verification of multi-CPU systems 1-gen-2008 Cordibella, Stefano; Fummi, Franco; Perbellini, Giovanni; Quaglia, Davide
A Method to Abstract RTL IP Blocks into C++ Code and Enable High-Level Synthesis 1-gen-2013 Bombieri, Nicola; H. Y., Liu; Fummi, Franco; L., Carloni
A Methodology for Abstracting RTL Designs into TL Descriptions 1-gen-2006 Bombieri, Nicola; Fummi, Franco; Pravadelli, Graziano
A Middleware-Centric Design Flow for Networked Embedded Systems 1-gen-2007 Fummi, Franco; Perbellini, Giovanni; Pietrangeli, Roberto; Quaglia, Davide
A Mutation Model for the SystemC TLM 2.0 Communication Interfaces 1-gen-2008 Bombieri, Nicola; Fummi, Franco; Pravadelli, Graziano
A Parametric Design of a Built-In Self-Test FIFO Embedded Memory 1-gen-1996 S., Barbagallo; M. L., Bodoni; D., Medina; G., De Blasio; M., Ferloni; Fummi, Franco; D., Sciuto
A Protected IP-Core Test Generation 1-gen-2002 Fin, Alessandro; Fummi, Franco
A Pseudo-Deterministic Functional ATPG based on EFSM Traversing 1-gen-2005 DI GUGLIELMO, Giuseppe; Fummi, Franco; Marconcini, Cristina; Pravadelli, Graziano
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Tipologia
  • 04 Contributo in atti di convegno 284
  • 04 Contributo in atti di convegno... 284
Autore
  • PRAVADELLI, Graziano 75
  • BOMBIERI, Nicola 56
  • QUAGLIA, Davide 37
  • LORA, MICHELE 26
  • DI GUGLIELMO, Giuseppe 22
  • PERBELLINI, Giovanni 22
  • FRACCAROLI, ENRICO 21
  • VINCO, Sara 21
  • FIN, Alessandro 20
  • STEFANNI, Francesco 20
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 36
  • 2010 - 2019 101
  • 2000 - 2009 99
  • 1990 - 1999 48
Editore
  • IEEE 32
  • Institute of Electrical and Elect... 2
  • ACM 1
  • ACM / Association for Computing M... 1
  • ECSI Electronic Chips & Systems d... 1
  • ECSI Electronic Chips & Systems d... 1
  • IEEE / Institute of Electrical an... 1
  • IEEE Computer Society 1
  • IEEE/IFIP 1
  • Springer 1
Rivista
  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 1
Serie
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • ... IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE... 1
  • LECTURE NOTES IN ARTIFICIAL INTEL... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 1
  • PROCEEDINGS DESIGN, AUTOMATION, A... 1
Keyword
  • SystemC 27
  • TLM 16
  • testing 14
  • EFSM 12
  • Functional testing 10
  • Simulation 10
  • ATPG 9
  • UML 9
  • Embedded Systems 7
  • Fault model 7
Lingua
  • eng 284
Accesso al fulltext
  • no fulltext 241
  • restricted 25
  • open 18