Structural properties of W-Si-N reactively sputtered thin films

MARIOTTO, Gino;
2007-01-01

2007
Tungsten-silicon-nitrogen films; reactive sputtering; structural properties
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11562/311749
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 8
social impact