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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Transaction-level Functional Mockup Units for Cyber-Physical Virtual Platforms 1-gen-2018 Centomo, Stefano; Lora, Michele; Fummi, Franco
Two-Dimensional Sequential Arrays: Design for Testability Approaches 1-gen-1994 C., Bolchini; Fummi, Franco; D., Sciuto
UML-based Modeling and Simulation of Environmental Effects in Networked Embedded Systems 1-gen-2013 Ebeid, Emad Samuel Malki; Quaglia, Davide; Fummi, Franco
UNIVERCM: the UNIversal VERsatile Computational Model for heterogeneous embedded system design 1-gen-2011 DI GUGLIELMO, Luigi; Fummi, Franco; Pravadelli, Graziano; Stefanni, Francesco; Vinco, Sara
Use of Statecharts-Related Description to Achieve Testable Design of Control Subsystems 1-gen-1997 Fummi, Franco; M. G., Sami; F., Tartarini
Vacuity Analysis by Fault Simulation 1-gen-2008 DI GUGLIELMO, Luigi; Fummi, Franco; Pravadelli, Graziano
Vacuity Analysis for Property Qualification by Mutation of Checkers 1-gen-2010 DI GUGLIELMO, Luigi; Fummi, Franco; Pravadelli, Graziano
Verilog-A Implementation of Generic Defect Templates for Analog Fault Injection 1-gen-2023 Dall'Ora, Nicola; Azam, Sadia; Fraccaroli, Enrico; Gillon, Renaud; Fummi, Franco
VHDL Testability Analysis based on Faults Clustering and Implicit Faults Injection 1-gen-1998 F. S., Bietti; F., Ferrandi; Fummi, Franco; D., Sciuto
VIR2EM: VIrtualization and Remotization for Resilient and Efficient Manufacturing 1-gen-2023 Beghi, Alessandro; Dall'Ora, Nicola; Dalle Pezze, Davide; Fummi, Franco; Masiero, Chiara; Spellini, Stefano; Antonio Susto, Gian; Tosoni, Francesco
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Tipologia
  • 04 Contributo in atti di convegno 284
  • 04 Contributo in atti di convegno... 284
Autore
  • PRAVADELLI, Graziano 75
  • BOMBIERI, Nicola 56
  • QUAGLIA, Davide 37
  • LORA, MICHELE 26
  • DI GUGLIELMO, Giuseppe 22
  • PERBELLINI, Giovanni 22
  • FRACCAROLI, ENRICO 21
  • VINCO, Sara 21
  • FIN, Alessandro 20
  • STEFANNI, Francesco 20
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 36
  • 2010 - 2019 101
  • 2000 - 2009 99
  • 1990 - 1999 48
Editore
  • IEEE 32
  • Institute of Electrical and Elect... 2
  • ACM 1
  • ACM / Association for Computing M... 1
  • ECSI Electronic Chips & Systems d... 1
  • ECSI Electronic Chips & Systems d... 1
  • IEEE / Institute of Electrical an... 1
  • IEEE Computer Society 1
  • IEEE/IFIP 1
  • Springer 1
Rivista
  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 1
Serie
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • ... IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE... 1
  • LECTURE NOTES IN ARTIFICIAL INTEL... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 1
  • PROCEEDINGS DESIGN, AUTOMATION, A... 1
Keyword
  • SystemC 27
  • TLM 16
  • testing 14
  • EFSM 12
  • Functional testing 10
  • Simulation 10
  • ATPG 9
  • UML 9
  • Embedded Systems 7
  • Fault model 7
Lingua
  • eng 284
Accesso al fulltext
  • no fulltext 241
  • restricted 25
  • open 18