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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
An Approach to a Design for Testability Personal Consultant 1-gen-1990 G., Buonanno; A., Burri; Fummi, Franco; D., Sciuto
Design Representation and Manipulation for High-Level Synthesis of DSP Algorithm 1-gen-1992 A., Balboni; C., Costi; Fummi, Franco; M., Porta; V., Rampa; D., Sciuto
Two-Dimensional Sequential Array Architectures: Design for Testability and Reconfiguration Issues 1-gen-1993 C., Bolchini; Fummi, Franco; D., Sciuto
Fault Detection in Sequential Circuits through Functional Testing 1-gen-1993 G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto
Functional Testing and Constrained Synthesis of Sequential Architectures 1-gen-1993 G., Buonanno; Fummi, Franco; D., Sciuto
FSM Fault Models Impact on Test Performances 1-gen-1993 C., Bolchini; Fummi, Franco
A Design Methodology for the Correct Specification of VLSI Systems 1-gen-1993 C., Bolchini; M., Bombana; Fummi, Franco; P., Cavalloro; C., Costi; G., Zaza
Test Generation for Stuck-at and Gate-Delay Faults in Sequential Circuits: a Mixed Functional/Structural Method 1-gen-1994 Fummi, Franco; D., Sciuto; M., Serra
Two-Dimensional Sequential Arrays: Design for Testability Approaches 1-gen-1994 C., Bolchini; Fummi, Franco; D., Sciuto
From Behavioral Description to Systolic Array Based Architectures 1-gen-1994 A., Balboni; C., Costi; Fummi, Franco; D., Sciuto
Behavioral Testability and Test Pattern Generation of the Hopfield Network Model 1-gen-1994 C., Alippi; Fummi, Franco; V., Piuri; M., Sami; D., Sciuto
On the Detection of Delay Faults Starting from a Functional Description of a Sequential Circuit 1-gen-1994 Fummi, Franco
A Functional Approach to Delay Fault Test Generation for Sequential Circuits 1-gen-1994 Fummi, Franco; D., Sciuto; M., Serra
Design for Testability Issues in the Implementation of Sequential Array Architectures 1-gen-1994 G., Bezzi; C., Bolchini; I., Bolzoni; S., Cantu`; Fummi, Franco; D., Sciuto
Functional Testing of Hopfield Networks: an FSM-Based Approach 1-gen-1995 C., Alippi; Fummi, Franco; V., Piuri; M. G., Sami; D., Sciuto
Test Sequences Embedding with Cellular Automata 1-gen-1995 Fummi, Franco; D., Sciuto; M., Serra
TIES: a Testability Increase Expert System for VLSI Design 1-gen-1995 Buonanno, G; Fummi, Franco; Sciuto, D.
Testable Synthesis of High Complex Control Devices 1-gen-1995 Fummi, Franco; U., Rovati; D., Sciuto
Sequential Logic Minimization Based on Functional Testability 1-gen-1995 Fummi, Franco; D., Sciuto; M., Serra
Synthesis for Testability of Large Complexity Controllers 1-gen-1995 Fummi, Franco; D., Sciuto; M., Serra
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